芯天成特征化建模平臺EsseChar
EsseChar
EsseSanity
EsseChipRA
產(chǎn)品簡介
芯天成特征化提取工具EsseChar，是國微芯自主開發(fā)的新一代特征化工具，基于自主高效的負載均衡分布式系統(tǒng)，內(nèi)嵌高速仿真軟件以及機器學習引擎，能快速抽取客戶在先進工藝節(jié)點所需要的先進模型（包括不同PVT下CCS、LVF、Aging等模型，SoC設(shè)計平臺一體化設(shè)計，能夠快速簡便地實現(xiàn)單元庫特征化需求，并無縫反饋到時序分析平臺、功耗分析平臺、可靠性設(shè)計平臺等，真正實現(xiàn)數(shù)字全流程一體化。
核心優(yōu)勢
快速蒙特卡羅LVF單元建庫；
業(yè)界領(lǐng)先的老化庫建模功能；
高效率負載平衡分布式平臺；
最差時序工作條件自動選??；
支持先進工藝時序簽核精度。
產(chǎn)品功能
支持NLDM、NLPM、CCS、LVF等多種模型；
支持快速蒙特卡洛仿真LVF建庫；
先進機器學習算法幫助快速收斂；
支持標準單元、接口單元及各種定制單元；
模型精度符合簽核標準。
應(yīng)用方案
數(shù)字設(shè)計基礎(chǔ)單元庫開發(fā)；
晶圓廠設(shè)計服務(wù)部門PDK套件；
Fabless廠商定制單元建庫；
SoC開發(fā)中的多工藝角ReChar。
產(chǎn)品簡介
芯天成單元庫正確性檢查工具EsseSanity，是國微芯自主開發(fā)的單元庫/IP驗證工具，采用現(xiàn)代圖形界面以及數(shù)據(jù)庫技術(shù)，能快速驗證海量單元庫。趨勢分析，表格分析，異常點檢測等功能可以快速定位單元庫的潛在問題，幫助加速簽核。獨創(chuàng)的時序報告分析功能可以快速對比不同條件下時序報告的變化，縮短設(shè)計人員響應(yīng)時間。質(zhì)量檢測，單元庫建庫一體化設(shè)計，能夠在同一個窗口管理所有工作，大大提高建庫人員和設(shè)計人員的協(xié)同工作效率。
核心優(yōu)勢
圖形界面多PVT一鍵式建庫；
支持多個庫的趨勢對比分析；
內(nèi)嵌Tcl解釋器便于調(diào)試；
多工藝角單元庫性能對比優(yōu)化；
- IP庫驗證RUNSET腳本智能化構(gòu)建。
產(chǎn)品功能
支持2D線對比、3D曲面對比；
快速定位單元庫屬性、值以及趨勢的變化；
支持同時打開大量單元庫操作，占用資源少；
支持datasheet自動生成及查看；
不同輸入文件交叉對比及圖形展示。
應(yīng)用方案
單元庫簽核前檢查；
多PVT質(zhì)量分析；
設(shè)計套件可靠性檢查；
Liberty大數(shù)據(jù)分析。
產(chǎn)品簡介
芯天成可靠性時序分析工具EsseChipRA，是針對高可靠性場景下芯片時序分析的全新要求開發(fā)的產(chǎn)品，綜合考慮老化效應(yīng)以及工藝波動效應(yīng)，協(xié)同EsseChar的老化庫建模模塊以及EsseSanity多工藝角性能分析優(yōu)化功能，能夠準確的分析和優(yōu)化芯片關(guān)鍵路徑的時序余量，為保證芯片設(shè)計功能正確性和穩(wěn)定性提供強有力的支撐。
核心優(yōu)勢
標準化TCL命令結(jié)合圖形操作；靈活強大可靠性時序分析引擎；
多線程及分布式架構(gòu)提升性能；
關(guān)鍵路徑網(wǎng)表展示及交互查詢；
多工具時序報告分析對比功能。
產(chǎn)品功能
支持CCS/NLDM模型；
支持各種不同偏差分析；
支持器件退化影響分析；
支持關(guān)鍵路徑變化對比；
GUI界面信息查看對比。
應(yīng)用方案
芯片設(shè)計時序簽核檢查；
車規(guī)芯片老化情況估算；
標準單元工藝波動影響；
輔助布局布線時序約束。
